阻抗分析儀IM7580A緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小，豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量。

化學阻抗分析儀IM3590較快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化，基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應，適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻（LCR）測量。

阻抗分析儀IM3570適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量，可以用于無線充電評價系統TS2400。

C測試儀 3506-10對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試，模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量，提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度。

C測試儀 3504-60對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能，3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試，3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試， 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率。